3) модовую структуру;

4) поляризацию;

5) условия окружающей среды:

- температуру,

- влажность,

- освещение помещения;

d) информацию об испытаниях и оценке:

1) используемый метод испытания;

2) детекторную систему и систему регистрации:

- время отклика детекторной системы,

- задержку импульса запуска системы регистрации (только для импульсных лазеров),

- длительность времени измерения (только для импульсных лазеров);

3) оптику для формирования луча и метод ослабления:

- тип аттенюатора,

- тип светоделителя пучка,

- тип фокусирующего элемента;

4) другие оптические компоненты и устройства, используемые для испытания (поляризатор, монохроматор и т.д.);

5) другие существенные параметры или характеристики испытания, которые необходимо выбрать (установка диафрагмы, базовая плоскость, базовая ось, лабораторная система);

6) измеренный сдвиг фазы

;

7) погрешность измерения.

Приложение А
(справочное)

Теоретическая основа

А.1 Описание поляризованной волны

Произвольно поляризованная электромагнитная волна с вектором поля Е, распространяющаяся в z-направлении, описывается как:


301 × 53 пикс. Открыть в новом окне

;


300 × 58 пикс. Открыть в новом окне

;

,

(А.1)

где

- переменная часть фазы;

и

- постоянная часть фазы.

Состояние поляризации обычно представляют эллипсом поляризации для вектора напряженности электрического поля, как показано на рисунке А.1.


903 × 727 пикс. Открыть в новом окне

х, у - оси координат абсолютной системы координат;

,

- оси координат главной системы координат

Рисунок А.1 - Эллипс поляризации световой волны

В общем случае поляризацию представляют эллипсом с двумя главными осями а и b, где главная ось

наклонена относительно базовой оси х на угол

. Состояние поляризации характеризуют либо параметры a, b и

, либо a₁, а₂ и

, где

=

-

.

А.2 Анализ состояния поляризации

Для анализа состояния поляризации анализатор вращается вокруг оси пучка, характеристики которого требуется определить. Анализатор пропускает только часть электрического поля, ориентированного также, как и анализатор, как показано на рисунке А.2.


589 × 621 пикс. Открыть в новом окне

х, у - оси координат абсолютной системы координат; А - направление анализатора; В - точка пересечения перпендикуляра к А от а₁ с А; С - точка пересечения перпендикуляра к А от а₂ с А; О - начало системы координат

Рисунок А.2 - Свет, пропускаемый через анализатор

От электрического поля с амплитудами а₁ и а₂ в направлениях х и у соответственно передаются только компоненты, параллельные оси пропускания анализатора. Угол между осью пропускания анализатора и направлением х представляется

. Этими компонентами являются ОВ и ОС, определяемые:


460 × 53 пикс. Открыть в новом окне

.

(А.2)

Измеренный сигнал на приемнике после анализатора прямо пропорционален Е². Данный сигнал получается в результате интерференции этих двух монохроматических волн с разностью фаз

, по формуле


516 × 74 пикс. Открыть в новом окне

.

(A.3)

При значениях амплитуд компонент из формулы (А.2) вытекает соотношение

Форма поиска

Теоретическая основа