Действующий
Максимальное вертикальное отклонение a поперечного профиля поверхности зоны магнитной полосы показано ниже на рисунках 3-5. Тангенс угла наклона кривой профиля поверхности должен находиться в следующих пределах:
Если жесткость карты при изгибе такова, что прогиб (см. ИСО/МЭК 7810) составляет 20 мм или более, то профиль поверхности должен лежать в следующих границах:
минимальная ширина магнитной полосы | рисунок 3а | рисунок 3b |
W = 6,35 мм | a 9,5 мкм | а 5,8 мкм |
W = 10,41 мм | а 15,4 мкм | а 9,3 мкм |
Если жесткость карты при изгибе такова, что прогиб (см. ИСО/МЭК 7810) менее 20 мм, то профиль поверхности должен лежать в следующих границах:
минимальная ширина магнитной полосы | рисунок 3а | рисунок 3b |
W = 6,35 мм | а 7,3 мкм | а 4,5 мкм |
W = 10,41 мм | а 11,7 мкм | а 7,3 мкм |
Вертикальное отклонение h зоны магнитной полосы относительно прилегающей поверхности карты должно быть следующим:
Выступ профиля, обусловленный выдавливанием материала при горячей штамповке, не является частью магнитной полосы. Он не должен превышать высоту h зоны магнитной полосы, как указано выше.
Среднее значение параметра Ra шероховатости поверхности зоны магнитной полосы не должно превышать 0,40 мкм как в продольном, так и в поперечном направлениях при измерениях по ИСО 4287.
Среднюю UA и единичную Ui амплитуды сигнала измеряют до (UA до) и после (UA после, Ui после) воздействия 2000 циклов износа. Должны выполняться следующие условия:
Среднюю UA и единичную Ui амплитуды сигнала измеряют до (UA до) и после (UA после, Ui после) кратковременного химического воздействия в соответствии с ИСО/МЭК 10373-1. Должны выполняться следующие условия:
Среднюю UA и единичную Ui амплитуды сигнала измеряют до (UA до) и после (UA после, Ui после) продолжительного (в течение 24 ч) воздействия кислотного и щелочного растворов, имитирующих пот, в соответствии с ИСО/МЭК 10373-1. Должны выполняться следующие условия:
Цель данного раздела - обеспечить способность карт к магнитному взаимодействию с системами обработки. Требования к коэрцитивной силе магнитного материала стандарт не устанавливает, но номинально она составляет 51,7 кА/м (650 Э). Требования к рабочим характеристикам магнитных материалов установлены в 7.3 независимо от коэрцитивной силы.
Примечание - Требования к характеристикам низкокоэрцитивных карт с номинальной коэрцитивной силой 23,9 кА/м (300 Э) приведены в ИСО/МЭК 7811-2.
Данный метод основан на использовании эталонной карты, магнитный материал которой имеет прослеживаемую связь с первичным эталоном (см. раздел 4). Результаты измерения амплитуды сигнала, полученные с применением вторичной эталонной карты, должны быть скорректированы с учетом поправочного множителя вторичного эталона. Испытания проводят по методам ИСО/МЭК 10373-2.
Нормальными климатическими условиями испытаний для измерений амплитуды сигнала являются следующие условия: температура окружающего воздуха - (23 3) °С, относительная влажность воздуха - от 40 % до 60 %. При измерениях в идентичных условиях после воздействия в течение 5 мин климатических факторов, соответствующих условиям эксплуатации (температура окружающего воздуха - от минус 35 °С до 50 °С, относительная влажность воздуха - от 5 % до 95 %), значение средней амплитуды сигнала при плотности записи 8 п.п./мм не должно отличаться от соответствующего значения, измеренного при нормальных климатических условиях испытаний до воздействия, более чем на 15 %.
Характеристика | Плотность записи, п.п./мм | Ток записи при испытаниях | Результат по амплитуде сигнала | Требование |
Амплитуда сигнала | 8 | Imin | UA1 | 0,8UR UA1 < 1,3UR |
Ui1 | Ui1 1,36UR | |||
Imax | UA2 | UA1 UA2 0,8UR | ||
20 | Ui2 | Ui2 0,65UR | ||
Разрешающая способность | 20 | UA3 | UA3 0,7UA2 | |
Стираемость | 0 | Imin, постоянный | UA4 | UA4 0,03UR |
Добавочный импульс | Ui4 | Ui4 0,05UR | ||
Наклон кривой насыщения никогда не должен быть положительным между Imin и Imax.Примечание 1 - Приведенные соотношения не допускается комбинировать математически.Примечание 2 - Замечено, что низкая разрешающая способность, измеренная в соответствии с таблицей 1, может коррелировать со значительным изменением промежутка между переходами потока, измеренным в соответствии с ИСО/МЭК 7811-2* (таблица 2). |
1 - кривая насыщения карты-образца; 2 - скорректированная кривая насыщения эталонной карты (приведена к первичному эталону)
Примечание - Кривая 2 определяет характеристику первичного эталона. Параметры окна определяют карту, которая будет функциональна в машиночитаемой среде. Скорректированная кривая насыщения эталонной карты может не удовлетворять требованиям раздела 7.