Утративший силу
Размеры плоскости однородного поля должны быть по меньшей мере м, за исключением случаев, когда ИТС и соединительные кабели могут быть полностью "освещены" при использовании плоскости однородного поля меньших размеров. Минимальные размеры плоскости однородного поля должны быть м.
Лицевая сторона ИТС, подвергаемого воздействию испытательного поля, должна совпадать с плоскостью однородного поля (см. рисунки 5 и 6). Учитывая невозможность создания однородного испытательного поля в непосредственной близости к пластине заземления, нижний край плоскости однородного поля должен находиться на высоте не менее 0,8 м над пластиной заземления. По возможности ИТС размещают на этой высоте.
Для установления жесткости испытаний в случае, если ИТС и соединительные кабели размещены не на высоте 0,8 м, а в непосредственной близости к пластине заземления, а также в случае, если размеры стороны ИТС превышают м, напряженность испытательного поля должна быть дополнительно зафиксирована в четырех точках плоскости однородного поля: на высоте 0,4 м над пластиной заземления и в точках, совпадающих с максимальными высотой и поперечными размерами ИТС. Результаты дополнительных измерений указывают в протоколе испытаний.
Из-за отражений от пола в полубезэховой камере трудно установить однородное испытательное поле вблизи пластины заземления. Для решения этой проблемы размещают на пластине заземления дополнительный радиопоглощающий материал (см. рисунок 2).
Измерение напряженности поля в плоскости однородного поля проводят в точках измерительной сетки, разнесенных друг от друга на расстояние 0,5 м (см. рисунок 4, представляющий собой пример плоскости однородного поля размерами м).
Испытательное поле считают однородным, если его напряженность, измеряемая в плоскости однородного поля для 75% поверхности (например в 12 точках измерения из 16 для плоскости однородного поля размерами м), находится в пределах от 0 дБ до плюс 6 дБ от заданного значения. Для минимальных размеров плоскости однородного поля 0,5 х 0,5 м отклонения измеренной напряженности поля в четырех точках калибровочной сетки от заданной величины должны быть в указанных выше пределах.
Примечание - Для различных частот в пределах указанных отклонений могут находиться результаты измерений, полученные в различных точках измерительной сетки.
Отклонение от 0 дБ до плюс 6 дБ установлено с тем, чтобы напряженность поля не была ниже номинальной. Значение 6 дБ выбрано как минимально достижимое для практически применяемых средств испытаний.
На частотах испытаний менее 1 ГГц допускают отклонение более плюс 6 дБ, но не более плюс 10 дБ для 3% частот, проверяемых при испытаниях (отклонение менее 0 дБ не допускают). При этом значения отклонений должны быть отражены в протоколе испытаний. В случае расхождений результатов испытаний, полученных при различных отклонениях напряженности поля, преимущество имеют результаты испытаний, полученные при отклонениях от 0 дБ до плюс 6 дБ.
В случае если лицевая сторона ИТС, подвергаемая воздействию испытательного поля, имеет размеры более м и метод полного облучения (см. 3.9) (предпочтительный метод облучения) не может быть применен из-за отсутствия плоскости однородного поля достаточных размеров, ИТС облучают в серии испытаний с применением метода частичного облучения.
- калибровку испытательного поля допускается проводить при различных положениях излучающей антенны с тем, чтобы обеспечить покрытие всей лицевой поверхности ИТС плоскостью однородного поля в серии испытаний. Испытания ИТС в этом случае следует проводить при последовательном расположении антенны в каждом из этих положений;
- ИТС допускается перемещать при испытаниях так, чтобы каждая часть его лицевой поверхности находилась в пределах плоскости однородного поля во время, как минимум, одного из испытаний.
Примечание - При размещении антенны в каждом из выбранных положений должна быть проведена полная калибровка испытательного поля.
Требования к плоскости однородного поля и применимости методов полного облучения, частичного облучения и независимых окон приведены в таблице 2.
Таблица 2 - Требования к плоскости однородного поля и применимости методов полного облучения, частичного облучения и независимых окон
Частота испытаний | Требования к размерам и калибровке плоскости однородного поля | ||
Лицевая сторона ИТС полностью покрыта плоскостью однородного поля (предпочтительный метод полного облучения) | Лицевая сторона ИТС не покрыта полностью плоскостью однородного поля (альтернативные методы частичного облучения и независимых окон) | ||
Не более 1 ГГц | Минимальные размеры плоскости однородного поля должны быть 0,5 х 0,5 м. | Применяется метод частичного облучения. | |
Размеры плоскости однородного поля определяются числом точек калибровочной сетки, отстоящих друг от друга на 0,5 м (т.е. должны быть: 0,5 х 0,5 м; 0,5 х 1,0 м; 1,0 х 1,0 м и т. д.).Для плоскости однородного поля размерами более 0,5 х 0,5 м напряженность поля в 75% точек измерения должна находиться в установленных пределах. Для плоскости однородного поля размерами 0,5 х 0,5 м напряженность поля во всех точках измерения должна находиться в установленных пределах | Минимальные размеры плоскости однородного поля должны быть 1,5 х 1,5 м.Размеры плоскости однородного поля определяются числом точек калибровочной сетки, отстоящих друг от друга на 0,5 м (т. е. должны быть: 1,5 х 1,5 м; 1,5 х 2,0 м; 2,0 х 2,0 м и т. д.).Напряженность поля в 75% точек измерения должна находиться в установленных пределах | ||
Свыше 1 ГГц | Минимальные размеры плоскости однородного поля должны быть 0,5 х 0,5 м.Размеры плоскости однородного поля определяются числом точек калибровочной сетки, отстоящих друг от друга на 0,5 м (т. е. должны быть: 0,5 х 0,5 м; 0,5 х 1,0 м; 1,0 х 1,0 м и т. д.).Для плоскости однородного поля размерами более 0,5 х 0,5 м, напряженность поля в 75% точек измерения должна находиться в установленных пределах. Для плоскости однородного поля размерами 0,5x0,5 м напряженность поля во всех точках измерения должна находиться в установленных пределах | Применяются методы частичного облучения и независимых окон.При применении метода частичного облучения:- минимальные размеры плоскости однородного поля должны быть 1,5 х 1,5 м;- размеры плоскости однородного поля определяются числом точек калибровочной сетки, отстоящих друг от друга на 0,5 м (т. е. должны быть: 1,5 х 1,5 м; 1,5 х 2,0 м; 2,0 х2,0 м и т. д.);- напряженность поля в 75% точек измерения должна находиться в установленных пределах.При применении метода независимых окон размер окна должен быть 0,5 х 0,5 м (см. приложение И) |
Если в полосе частот от 1 до 6 ГГц требования к однородности испытательного поля, установленные в настоящем разделе, могут быть выполнены только на частотах не выше конкретной частоты, например если ширина диаграммы направленности излучающей антенны недостаточна для облучения всей поверхности ИТС, то для более высоких частот применяют метод независимых окон по приложению И.
Калибровку поля в безэховых и полубезэховых камерах следует проводить с помощью измерительной установки, приведенной на рисунке 7. Калибровку всегда следует проводить при немодулированной несущей для горизонтальной и вертикальной поляризаций испытательного поля в соответствии со значением шага изменения частоты, указанным в разделе 8. Значение напряженности поля при калибровке должно быть по крайней мере в 1,8 раза больше значения напряженности поля, которое будет воздействовать на ТС при проведении испытаний, чтобы обеспечить прохождение через усилители модулированного сигнала в отсутствие насыщения.
Если обозначить напряженность поля при калибровке через , то напряженность испытательного поля не должна превышать
Ниже приведены два метода калибровки испытательного поля. Измерительная сетка, состоящая из 16 точек измерения (размеры плоскости однородного поля м), рассмотрена в качестве примера. При правильном применении оба метода обеспечивают одинаковую однородность испытательного поля.
Постоянную напряженность испытательного поля в плоскости однородного поля устанавливают с использованием калиброванной измерительной антенны (датчика) последовательно на каждой из частот в каждой из 16 точек измерительной сетки (см. рисунок 4), используя значение шага частоты, указанное в разделе 8, путем регулирования мощности сигнала, подаваемого на излучающую антенну.
Мощность сигнала, подаваемого на излучающую антенну, измеряют с помощью установки по рисунку 7. Калибровку проводят при горизонтальной и вертикальной поляризации испытательного поля. Значения подаваемой мощности, дБ(мВт), регистрируют в 16 точках измерения.
рисунок 4) и устанавливают минимальную частоту испытательного сигнала в полосе частот, установленной для испытаний (например 80 МГц);
а) антенну (датчик) для измерения напряженности поля размещают в одной из 16 точек измерительной сетки (см.
Примечание - Если соотношение между напряженностью калиброванного поля и испытательного поля составляет R (дБ), где , то при испытаниях на излучающую антенну должна подаваться мощность (дБ). Индексы и относятся к калибровке и испытаниям соответственно. При испытаниях сигнал модулируют в соответствии с разделом 8.
Напряженность однородного поля устанавливают и измеряют с использованием калиброванной антенны (датчика) последовательно на каждой частоте в каждой из 16 точек измерительной сетки (см. рисунок 4), используя значение шага частоты, указанное в разделе 8, путем регулировки подводимой к излучающей антенне мощности.
Подводимую мощность, необходимую для установления напряженности поля в начальной точке, измеряют в соответствии с рисунком 7 и ее значение регистрируют. То же значение подводимой мощности устанавливают для всех 16 точек. Полученные значения напряженности поля регистрируют в каждой из 16 точек.
Калибровку проводят при горизонтальной и вертикальной поляризации испытательного поля. Процедура калибровки заключается в следующем:
рисунок 4) и устанавливают минимальную частоту испытательного сигнала в полосе частот, установленной для испытаний (например 80 МГц);
а) антенну (датчик) для измерения напряженности поля размещают в одной из 16 точек измерительной сетки (см.