Действующий
Характеристика работ. Обслуживание рентгеноструктурной аппаратуры и ее профилактический ремонт. Выбор режима экспозиции в соответствии с характеристиками исследуемого материала. Расшифровка рентгенограмм и дифрактограмм. Проведение фазового анализа. Расчет параметров элементарных ячеек и материалов кубических и средних сингоний. Исследование по рентгенограммам обратной съемки процессов рекристаллизации.
Должен знать: свойства рентгеновских лучей; природу возникновения рентгеновских спектров и дифракции рентгеновских лучей в кристалле; устройство и назначение высоковольтных генераторов, пультов управления, охладительных устройств; характеристики аппаратов, применяемых в рентгеноструктурных исследованиях; конструкции рентгеновских камер; методы приготовления некоторых селективно-поглощающих фильтров; обработку рентгенограмм; устройство микрофотометров, приемы работы на них; фотометрирование рентгенограмм визуально и с записью интенсивности на фотоматериал; измерение интегральной ширины линии с помощью планиметра; приемы работы и основные неисправности ионизационной установки; определение рабочей характеристики счетчика импульсов; подбор рабочего времени и замену счетчика в случае неисправности; подбор и смену шели у трубки и счетчика; установку различных скоростей диаграммной ленты на потенциометре; запись распределения интенсивности по сечению линии "по точкам"; общие представления об искажениях и напряжениях кристаллической решетки.
2. Дебаеграммы с симметричной и асимметричной закладкой пленки и рентгенограммы обратной съемки - замер на компараторе.
Характеристика работ. Монтаж и наладка стационарных и переносных аппаратов и установок для исследований фотометодом, рентгеновских дифрактометров для рентгеноструктурного анализа. Юстировка различных камер и приставок для структурного анализа. Выбор метода, режима и схем съемок при проведении исследования с применением обычных температурных, текстурных, малоугловых камер и приставок. Рентгенографические работы по изучению и контролю структуры, состава материалов и анализу макро- и микронапряжений. Получение рентгенограмм в монохроматизированном излучении и их расчет. Обработка и оформление полученных результатов.
Должен знать: свойства рентгеновских лучей и основы кристаллографии; теорию дифракции рентгеновских лучей; основы строения металлов и сплавов; принципы механической, термической и других методов обработки металлов и влияние на рентгенодифракционную картину изменения состава и структуры металлов и сплавов; общие и специальные методы рентгеноструктурного анализа; устройство рентгеновских аппаратов, дифрактометров; конструкцию камер монохроматоров, температурных малоугловых, текстурных камер и приставок; конструкцию рентгеновских гониометров, порядок их установки и юстировки; методы расчетов и расшифровки рентгенограмм с применением графиков, таблиц и номограмм с введением различных поправок; определение интенсивности; методы анализа формы и ширины дифракционных линий.
Характеристика работ. Выполнение рентгеноструктурных исследований с применением управляемых комплексов дифрактометр-ЭВМ. Рентгеноструктурный анализ сложных по химическому и фазовому составу образцов. Проведение исследований на крупногабаритных объектах с помощью специализированной малогабаритной аппаратуры. Подготовка поверхности объекта к исследованию. Выбор условий для получения рентгенограмм. Получение и обработка экспериментальных данных, выдача заключений и составление отчетов.
Должен знать: принцип действия и правила обслуживания управляемых комплексов дифрактометр-ЭВМ; основы построения методологической базы рентгеноструктурных исследований с использованием управляемых комплексов; методику получения экспериментальных данных при "непрерывной записи"; измерения в режиме "интегральный", "по точкам" и "измерение фона".
Характеристика работ. Сенситометрические испытания кинофотоизделий на прочность слоя пленки, на определение температуры плавления эмульсионного слоя и контрслоя пленки, на набухаемость эмульсионного слоя пленки; определение фотографических показателей - светочувствительности, коэффициента контрастности оптической и плотной подложки, оптической плотности вуали, фотографической ширины, максимальной оптической плотности и других фотопоказателей под руководством лаборанта-сенситометриста более высокой квалификации, сенситометрические испытания позитивных сортов кинофотоизделий. Подготовка образцов пленки к испытаниям.
Должен знать: принцип работы обслуживаемых приборов - денситометров, сенситометров, проявочных приборов, резельвометров, спектрографов, дензографов и др.; общие сведения о синтезе фотоэмульсий, поливе светочувствительных слоев; подбор композиции по рецептуре; правила обращения с огнеопасными веществами и ядами при работе в темноте.
Характеристика работ. Сенситометрические испытания кинофотоизделий на прочность слоя пленки, на определение температуры плавления эмульсионного стоя и контрслоя пленки, на набухаемость эмульсионного слоя пленки. Сенситометрические испытания обратимых пленок и реверсивной фотобумаги. Измерение толщины фотографических слоев. Проверка неактиничности освещения в темных комнатах. Проверка правильности расположения и размера кадра изображения и звука в фильмокопиях. Сенситометрические испытания опытных образцов, стабильности эмульсий, осей полуфабриката и готовой продукции. Экспонирование образцов в сенситометре. Обработка образцов фоторастворами. Промер оптических плотностей на денситометрах. Построение характеристических кривых зависимости оптических плотностей от логарифма экспозиции. Определение фотографических показателей светочувствительности, коэффициента контрастности, оптической плотности подложки, вуали, фотографической широты, максимальной и оптической плотности и других фотопоказателей. Регулирование оптических приборов. Запись результатов испытания.
Должен знать: устройство обслуживаемых приборов - денситометров, сенситометров, проявочных приборов, резельвометров, спектрографов, дензографов и т.д.; основы химии и фотохимии; правила и способы синтеза фотоэмульсий, полива светочувствительных слоев, подбора композиции по рецептуре; правила обработки пленок фоторастворами; ведение графических расчетов; технические условия на кинофотопленки и фильмокопии; государственные стандарты на расположение кадров изображения и звука фильмокопий и геометрические размеры кинопленок.
Характеристика работ. Проведение качественного и количественного спектральных анализов, подготовка электродов и проб к анализу. Приготовление стандартных растворов проявителя и фиксажа. Подготовка спектральной аппаратуры, съемка, фотообработка фотопластинок и измерение спектрограмм. Включение и отключение квантометра. Выполнение фотографического количественного спектрального анализа чугуна, углеродистых и среднелегированных сталей на легирующие элементы, цветных металлов и сплавов на их основе под руководством лаборанта более высокой квалификации.
Должен знать: общие сведения об оптике, фотографии, электричестве и химии; метод спектрального анализа; сущность метода трех эталонов; химическое обозначение легирующих элементов; назначение различных электродов для спектрального анализа; правила обращения с реактивами и кислотами; требования, предъявляемые к качеству проб и анализов; основные положения количественных и качественных методов анализа.
Характеристика работ. Составление плана съемки и съемка спектрограмм с целью выполнения качественного фотографического спектрального анализа простых объектов. Проверка правильности работы фотоэлектрической аппаратуры: логарифмичность, электрическая и фотоэлектрическая воспроизводимость. Перевод пробы в раствор или в окисел. Выполнение фотографического количественного спектрального анализа чугунов, углеродистых и среднелегированных сталей на легирующие элементы, цветных металлов и сплавов на их основе. Полуколичественный анализ среднелегированных сталей на стилоскопах.
Должен знать: основы оптики, фотографии, электричества и химии; оптические схемы и типы спектральных приборов, устройство микроспектрометра; принципиальные схемы источников возбуждения; методы измерения интенсивности; методы построения градуировочных графиков; допустимые расхождения между параллельными анализами; методы фотометрирования спектра; основные сведения о структуре металлов и сплавов.